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              -65度三箱沖擊試驗箱,三箱法高低溫沖擊箱

              -65度三箱沖擊試驗箱,三箱法高低溫沖擊箱
              1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
              2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗
              3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
              4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

              • 產品型號:
              • 廠商性質:生產廠家
              • 更新時間:2025-09-17
              • 訪  問  量:1735
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              聯系電話:021-31434441

              產品詳情

              -65度三沖擊試驗箱,三箱法高低溫沖擊箱
              機型 :JS-CJ100/10

              內箱容積:50/80/100/150L,可定制
              測試環(huán)境條件: 環(huán)境溫度為+25℃、試驗箱內無試樣條件下
              測試方法: GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備
              高溫室:
              預溫度范圍 :RT~+200℃
              升溫時間 :RT+10℃→+200℃ ≤40min
              低溫室:
              預冷溫度范圍: RT~-100℃
              降溫時間: RT → -100℃≤60min
              試驗室(試樣區(qū))
              試驗方式 :氣動風門切換
              3 溫區(qū)沖擊試驗條件(高溫-常溫-低溫)
              2 溫區(qū)沖擊試驗條件(高溫-低溫)
              溫度沖擊范圍: -65℃~ +150℃
              溫度波動度: ±0.5℃
              溫度偏差: ±2.0℃
              溫度恢復時間: ≤5min
              恢復條件試樣:塑料封裝集成電路(均布)
              傳感器位置:試樣的上風側
              高溫曝露: RT~+150℃:≥30分鐘
              環(huán)境溫度曝露:常溫
              低溫曝露: RT~-65℃:≥30分鐘
              試樣重量:4.5kg(如需要放置重的試樣,請?zhí)崆案嬷?/span>
              制冷方式:水冷
              -65度三沖擊試驗箱,三箱法高低溫沖擊箱控制器:
              種類: 觸摸智能式溫度控制器
              顯示器: 彩色觸摸式液晶顯示
              運行方式: 程序方式
              設定方式:全中文液晶顯示(中英文可切換)LCD觸摸式面板(耐100.000次畫線試驗)
              程序容量: 可使用的程序量:最大 120 組,1 個程序可由 1~99 段次組合而成;
              可使用的記憶容量: 1200 段,可重復執(zhí)行命令:每一個命令可達 999 次,程序斜率設定可由時間軸來設定,程序間可設定聯結使用,程序之制作采用對談式,操作簡單具有編輯,清除,插入等功能,4 組時間信號輸出控制(可控制待測物 ON/OFF 動作)具有 9 組 PID 參數設定,程序執(zhí)行中具有跳段,保持功能,可顯示曲線,數據采集;日期、時間調整功能;按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能,可連接計算機。
              顯示分辨率: 溫度分辨:0.1℃;時間分辨:0.1min
              溫度輸入 :PT100
              控制方式: 抗積分飽和PID,BTC平衡調溫控制方式
              曲線記錄功能: 程序執(zhí)行時可實時顯示圖形曲線
              附屬功能 :具有斷電程序記憶,復電后自動啟動并接續(xù)執(zhí)行程序功能,具有日期,時間調整,預約啟動,關機功及畫面鎖定(LOCK)功能。
              三箱法高低溫沖擊箱滿足試驗標準
              1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
              2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗 
              3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
              4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
              5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
              6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
              7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
              8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件

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