熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測試機適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測試機概述：

  快速高低溫沖擊儀（也稱為熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測試機）適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。廣泛應用于通信、半導體、芯片、傳感器、微電子等領域。在短時間內檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學變化和物理傷害，減少測試與驗證時間，快速提高產品研發(fā)和生產效率。

 冷熱循環(huán)沖擊測試機符合標準國內jun用元件（GJB系統(tǒng)）測試要求，JEDEC測試要求的元件測試

熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測試機特點：

 1. 變溫速率更快于-80℃~+225℃提供20 SCFM持續(xù)不間斷之氣流量于-55℃~+125℃/+125℃~-55℃溫度轉換速度10秒內達成；

2. 溫控精度：±1℃；

3. 實時監(jiān)測待測元件真實溫度，可隨時調整沖擊氣流溫度；

4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 可單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件；

5. 對測試機平臺load board上的IC進行溫度循環(huán)沖擊， 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試；

6. 對整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。

7.主動式溫度控制與可設定之溫度升降斜率，可直接應用在桌上型與生產線上之溫度線圖、溫度循環(huán)、 冷熱沖擊與測試。

8.活動式手臂與支架可適用在較高及難以觸及的測試應用。

快速高低溫沖擊儀技術參數：

溫度范圍：-45、-60、-70、-80℃ ～225℃

溫控精度： ±0.5℃～±1℃

溫度轉換時間： -80℃ to 150℃ 約10S，150℃ to -80℃ 約10S