高低溫沖擊試驗箱，溫循沖擊箱是模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。

高低溫沖擊試驗箱，溫循沖擊箱簡介：

   高低溫沖擊試驗箱是模擬GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術(shù)條件；GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航kong、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。

高低溫沖擊試驗箱，溫循沖擊箱技術(shù)指標(biāo)：

1. 提籃尺寸尺寸：300×300×300mm (深×寬×高) 

2. 工作室尺寸：500×600×500mm   (深×寬×高) 

3.溫度參數(shù)：

溫度沖擊范圍：-65℃～＋150℃

溫度波動度：≤±0.5℃

溫度均勻度：≤2℃（空載、恒定狀態(tài)下）

溫度偏差度：±2.0℃（空載、恒定狀態(tài)時）

轉(zhuǎn)換時間：≤10S

溫度恢復(fù)時間：≤5 min

4.溫度沖擊方式

通過試驗樣品在測試室移動，左右移動拉動樣品在高溫室和低溫室之間進行溫度沖擊。

兩箱式溫度循環(huán)沖擊，試樣物品在移動提籃中，循環(huán)過程自動控制，停留及轉(zhuǎn)換時間可調(diào)

5.滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.22 -2012Na 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗；

GB 10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；

GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；